Characterization of atomic force microscope probes at low temperatures
2003
Fichiers
Détails
Titre
Characterization of atomic force microscope probes at low temperatures
Auteur(s)
Radenovic, A. ; Bystrenova, E. ; Libioulle, L. ; Valle, F. ; Shubeita, G. T. ; Kasas, S. ; Dietler, G.
Publié dans
Journal of Applied Physics
Volume
94
Numéro
6
Pages
4210-4214
Date
2003
Editeur
American Institute of Physics
ISSN
0021-8979
Autres identifiant(s)
DAR: 4243
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Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IBI-STI - Institut Interfacultaire de Bioingénierie > LBEN - Laboratoire de biologie à l'échelle nanométrique
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LPMV - Laboratoire de physique de la matière vivante
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
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Date de création de la notice
2007-06-20