The importance of distributed loading and cantilever angle in piezo-force microscopy
2004
Détails
Titre
The importance of distributed loading and cantilever angle in piezo-force microscopy
Auteur(s)
Huey, B. D. ; Ramanujan, C. ; Bobji, M. ; Blendell, J. ; White, G. ; Szoszkiewicz, R. ; Kulik, A.
Publié dans
Journal of Electroceramics
Volume
13
Numéro
1-3
Pages
287-291
Date
2004
ISSN
1385-3449
Autres identifiant(s)
DAR: 6281
Afficher la publication dans Web of Science
Afficher la publication dans Web of Science
Laboratoires
LNNME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > SB Archives > LNNME - Laboratoire de nanostructures et nouveaux matériaux électroniques
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2007-04-23