Theoretical and experimental limits of quantitative analysis of strain and chemistry of inGasAs/GaAs layers using (200) dark-fiel TEM imaging


Publié dans:
Inst. Phys. Conf. Ser., 180, 203-206
Année
2003
Laboratoires:




 Notice créée le 2007-02-15, modifiée le 2018-03-17


Évaluer ce document:

Rate this document:
1
2
3
 
(Pas encore évalué)