Theoretical and experimental limits of quantitative analysis of strain and chemistry of inGasAs/GaAs layers using (200) dark-fiel TEM imaging
2003
Détails
Titre
Theoretical and experimental limits of quantitative analysis of strain and chemistry of inGasAs/GaAs layers using (200) dark-fiel TEM imaging
Auteur(s)
Cagnon, J. ; Buffat, P. A. ; Stadelmann, P. A. ; Leifer, K.
Publié dans
Inst. Phys. Conf. Ser.
Volume
180
Pages
203-206
Date
2003
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15