Focused electron beam induced deposition of high resolution magnetic scanning probe tips
2002
Détails
Titre
Focused electron beam induced deposition of high resolution magnetic scanning probe tips
Auteur(s)
Utke, I ; Cicoira, F ; Jaenchen, G ; Hoffmann, P ; Scandella, L ; Dwir, B ; Kapon, E ; Laub, D ; Buffat, PA ; Xanthopoulos, N ; Mathieu, HJ
Publié dans
Maerials. Research Society Symposium Proceedings
Volume
706
Pages
Z9.24.1-Z9.24.6
Date
2002
Mots-clés (libres)
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > STI Archives > LOA - Laboratoire d'optique appliquée Prof. Salathé
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
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Date de création de la notice
2007-02-15