Contribution of EELS and quantitative dark field-imaging to the understanding of strain and chemistry in InGaAs quantum wires
2001
Détails
Titre
Contribution of EELS and quantitative dark field-imaging to the understanding of strain and chemistry in InGaAs quantum wires
Auteur(s)
Leifer, K ; Rudra, A ; Stauss, S ; Buffat, PA ; Stadelmann, PA ; Kapon, E
Publié dans
Inst. Phys. Conf. Ser.
Volume
169
Pages
21-24
Date
2001
Autres identifiant(s)
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DAR: 828
DAR: 828
Laboratoires
CIME
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Date de création de la notice
2007-02-15