Détails
Titre
Microscopy of Semiconducting Materials
Auteur(s)
Cagnon, J ; Buffat, PA ; Stadelmann, PA ; Leifer, K
Publié dans
Proceeding of the Royal Microscopical Society Conference
Pages
37-40
Date
2001
Editeur
IOP Publishing, Bristol, UK
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2007-02-15