PEELS Imaging and Linescan Study of Concentration Anisotropies in AlxGa1-xAs and InyGa1-yAs Heterostructures Grown on Non-Planar Substrates


Publié dans:
Microscopy of Semiconducting Materials, 27-30
Année
1999
Autres identifiants:
Laboratoires:




 Notice créée le 2007-02-15, modifiée le 2018-03-17


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