Détails
Titre
Contrast analysis in TEM images of InGaAs/GaAs strained layers grown on non-planar substrates
Publié dans
Microscopy of Semiconducting Materials. Proc.
Série
Institute of Physics Conference Series
Volume
164
Pages
185-188
Date
1999
Editeur
IOP Publishing LTD
Autres identifiant(s)
DAR: 1256
Afficher la publication dans Web of Science
Afficher la publication dans Web of Science
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2007-02-15