Crystallographic Orientation Assessment By Electron Backscattered Diffraction
1999
Détails
Titre
Crystallographic Orientation Assessment By Electron Backscattered Diffraction
Auteur(s)
Cléton, F ; Jouneau, PH ; Henry, S ; Gäumann, M ; Buffat, PA
Publié dans
Scanning
Volume
21
Numéro
4
Pages
232-237
Date
1999
Mots-clés (libres)
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Date de création de la notice
2007-02-15