Off-axis electron holography of nearly-spherical faceted voids in self-annealed implanted silicon
1999
Détails
Titre
Off-axis electron holography of nearly-spherical faceted voids in self-annealed implanted silicon
Auteur(s)
Beeli, C ; Matteucci, G ; Lulli, G ; Merli, PG ; Migliori, A
Publié dans
Materials Characterization
Volume
42
Numéro
4-5
Pages
241-247
Date
1999
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Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Date de création de la notice
2007-02-15