Quantitative determination on the temperature dependence of the thickness of ferroelectric domain walls using weak beam transmission electron microscopy
1999
Détails
Titre
Quantitative determination on the temperature dependence of the thickness of ferroelectric domain walls using weak beam transmission electron microscopy
Auteur(s)
Foeth, M ; Stadelmann, PA ; Buffat, PA
Publié dans
Ultramicroscopy
Volume
75
Numéro
4
Pages
203-213
Présenté à
In-Situ Electron Microscopy, January 7-10 1999
Date
1999
Editeur
ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15