Quantitative determination of the thickness of ferroelectric domain walls using weak beam transmission electron microscopy
1998
Détails
Titre
Quantitative determination of the thickness of ferroelectric domain walls using weak beam transmission electron microscopy
Auteur(s)
Foeth, M ; Stadelmann, PA
Publié dans
Réunion de la Société Suisse de Physique. Bulletin SPG/SSP
Volume
15
Numéro
1
Pages
98
Date
1998
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15