Electron holography study of voids in self-annealed implanted silicon
1998
Détails
Titre
Electron holography study of voids in self-annealed implanted silicon
Auteur(s)
Beeli, C ; Matteucci, G ; Lulli, G ; Merli, PG ; Migliori, A
Publié dans
Philosophical Magazine Letters
Volume
78
Numéro
6
Pages
445-451
Date
1998
Autres identifiant(s)
Afficher la publication dans Web of Science
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2007-02-15