Détails
Titre
Quantitative Analysis of Al1-xGaxAs heterostructures using EELS
Auteur(s)
Leifer, K ; Buffat, PA
Publié dans
Microscopy of Semiconducting Materials 1997
Série
Institute of Physics Conference Series, 157
Pages
381-384
Présenté à
Royal-Microscopical-Society Conference on Microscopy of Semiconducting Materials Location, OXFORD, ENGLAND, APR 07-10, 1997
Date
1997
ISBN
0-7503-0464-2
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15