High-resolution transmission electron microscopy of the electron-doped compound Nd1·85 Th0·15 CuO4-δ
1995
Détails
Titre
High-resolution transmission electron microscopy of the electron-doped compound Nd1·85 Th0·15 CuO4-δ
Auteur(s)
Tao, S ; Nissen, HU ; Beeli, C ; Schilling, A ; Guo, JD ; Ott, HR
Publié dans
Philosophical Magazine A
Volume
72
Numéro
1
Pages
105-112
Date
1995
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Publications validées par des pairs
Travail produit à l'EPFL
Articles de journaux
Publié
Date de création de la notice
2007-02-15