Détails
Titre
EDS and EELS using a TEM-FEG microscope
Auteur(s)
Stadelmann, PA ; Leifer, K ; Verdon, C
Publié dans
Ultramicroscopy
Volume
58
Numéro
1
Pages
35-41
Date
1995
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15