Effect of the three-fold astigmatism on high resolution electron micrographs
1995
Détails
Titre
Effect of the three-fold astigmatism on high resolution electron micrographs
Auteur(s)
Krivanek, OL ; Stadelmann, PA
Publié dans
Ultramicroscopy
Volume
60
Numéro
1
Pages
103-113
Date
1995
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15