Détails
Titre
Wedge cleaving for TEM samples preparation and interface analysis
Auteur(s)
Ruterana, P ; Laub, D
Publié dans
ICEM
Pages
1019-1020
Date
1994
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2007-02-15