Microstructural characterization of Ni/Ti multilayers with TEM, EDS and PEELS
1994
Détails
Titre
Microstructural characterization of Ni/Ti multilayers with TEM, EDS and PEELS
Auteur(s)
Leifer, K ; Buffat, PA ; Böni, P ; Elsenhans, O ; Friedli, HP ; Grimmer, H ; Anderson, IS
Publié dans
ICEM
Pages
189-190
Date
1994
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Laboratoires
CIME
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15