HREM strain measurement of ultra thin ZnTe and MnTe layers grown in CdTe
1993
Détails
Titre
HREM strain measurement of ultra thin ZnTe and MnTe layers grown in CdTe
Auteur(s)
Jouneau, PH ; Tardot, A ; Feuillet, G ; Mariette, H ; Cibert, J
Publié dans
Proceedings of the Royal Microscopical Society Conference.
Série
Institute of Physics Conference Series
Volume
134
Pages
329-332
Présenté à
Bristol, UK
Date
1993
Editeur
Microscopy of Semiconducting Materials
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2007-02-15