A TEM study of the structure in PtSi ultrathin layers obtained on Si(100) by Pt sputtering and annealing
1991
Détails
Titre
A TEM study of the structure in PtSi ultrathin layers obtained on Si(100) by Pt sputtering and annealing
Auteur(s)
Ruterana, P ; Solt, K ; Buffat, PA
Publié dans
surface science
Volume
251-252
Pages
150-154
Date
1991
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CIME
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Date de création de la notice
2007-02-15