Structural characterization of short-period Si/sub m/Ge/sub n/ superlattices by transmission electron microscopy and X-ray diffraction
1991
Détails
Titre
Structural characterization of short-period Si/sub m/Ge/sub n/ superlattices by transmission electron microscopy and X-ray diffraction
Auteur(s)
Jager, W ; Leifer, K ; Ehrhart, P ; Kasper, E ; Kibbel, H
Publié dans
Silicon Molecular Beam Epitaxy Symposium.
Volume
220
Pages
167-73
Date
1991
Editeur
Mater. Res. Soc
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15