Rapid preparation of cross-sectional TEM samples from electroplated copper
1990
Détails
Titre
Rapid preparation of cross-sectional TEM samples from electroplated copper
Auteur(s)
Dinan, T. E. ; Landolt, D ; Ruterana, P ; Buffat, PA
Publié dans
Mataterials research society symposium proceedings
Volume
199
Pages
281-288
Date
1990
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15