Transmission and reflection electron microscopy on cleaved edges of III-V multilayers structures
1990
Détails
Titre
Transmission and reflection electron microscopy on cleaved edges of III-V multilayers structures
Auteur(s)
Buffat, PA ; Ganière, JP ; Stadelmann, PA
Publié dans
Electron Microscopy
Pages
319-333
Date
1990
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15