Simulation of high resolution electron microscope images and 2-dimensional convergent beam electron diffraction patterns
1989
Détails
Titre
Simulation of high resolution electron microscope images and 2-dimensional convergent beam electron diffraction patterns
Auteur(s)
Stadelmann, PA ; Buffat, PA
Publié dans
JOM Journal of the minerals, metals and materials society
Volume
41
Pages
159-169
Date
1989
Note
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Laboratoires
CIME
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Date de création de la notice
2007-02-15