Caractérisation par microscopie électronique à transmission des interfaces dans les hétérostructures ternaires GaInAs/InP et quaternaires GaInAsP/InP
1989
Détails
Titre
Caractérisation par microscopie électronique à transmission des interfaces dans les hétérostructures ternaires GaInAs/InP et quaternaires GaInAsP/InP
Auteur(s)
Spycher, R ; Buffat, PA ; Stadelmann, PA
Publié dans
Microsc. Spectrosc. Electron.
Volume
14
Pages
42a
Date
1989
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Date de création de la notice
2007-02-15