Caractérisation par microscopie électronique à transmission des interfaces dans les hétérostructures ternaires GaInAs/InP et quaternaires GaInAsP/InP


Published in:
Microsc. Spectrosc. Electron., 14, 42a
Year:
1989
Laboratories:




 Record created 2007-02-15, last modified 2018-03-17


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