Caractérisation par microscopie électronique à transmission des interfaces dans les hétérostructures ternaires GaInAs/InP et quaternaires GaInAsP/InP
1989
Details
Title
Caractérisation par microscopie électronique à transmission des interfaces dans les hétérostructures ternaires GaInAs/InP et quaternaires GaInAsP/InP
Author(s)
Spycher, R ; Buffat, PA ; Stadelmann, PA
Published in
Microsc. Spectrosc. Electron.
Volume
14
Pages
42a
Date
1989
Laboratories
CIME
Record Appears in
Scientific production and competences > SB - School of Basic Sciences > CIME - Interdisciplinary Center for Electron Microscopy
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Work produced at EPFL
Journal Articles
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Record creation date
2007-02-15