Characterization of GaAs/(GaAs)n(AlAs)m surface-emitting laser structures through reflectivity and high-resolution electron microscopy measurements
1989
Détails
Titre
Characterization of GaAs/(GaAs)n(AlAs)m surface-emitting laser structures through reflectivity and high-resolution electron microscopy measurements
Auteur(s)
Faist, J ; Ganière, JD ; Buffat, PA ; Sampson, S ; Reinhart, FK
Publié dans
Journal of Applied Physics
Volume
66
Numéro
3
Pages
1023-1032
Date
1989
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
CIME
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Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Date de création de la notice
2007-02-15