Calculation of high resolution electron microscope images of crystal defects on an IBM-AT based small computer system
1988
Détails
Titre
Calculation of high resolution electron microscope images of crystal defects on an IBM-AT based small computer system
Auteur(s)
Stadelmann, PA
Publié dans
EUREM 88
Volume
2
Pages
343-344
Date
1988
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15