Study by TEM of the V5Si3/V3Si oriented eutectic interphase interface
1986
Détails
Titre
Study by TEM of the V5Si3/V3Si oriented eutectic interphase interface
Auteur(s)
Lamine, AB ; Stadelmann, PA ; Senateur, JP ; Reynaud, F
Publié dans
Journal de microscopie et de spectroscopie électroniques
Volume
11
Numéro
5
Pages
325-43
Date
1986
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
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Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15