Elektronenmikroskopische untersuchung von versetzungsbewegungen in kupfer bei tiefen temperaturen
1979
Détails
Titre
Elektronenmikroskopische untersuchung von versetzungsbewegungen in kupfer bei tiefen temperaturen
Auteur(s)
Gotthardt, R ; Buffat, PA
Publié dans
Verhandlungen der deutschen Physikalischen Gesellschaft
Volume
1979
Numéro
1
Pages
235
Présenté à
Frühjarstagung Münster 1979, Münster, 12.-17. März 1979
Date
1979
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Date de création de la notice
2007-02-15