Expériences de déformation à basse température dans un microscope électronique de 200 kV
1979
Détails
Titre
Expériences de déformation à basse température dans un microscope électronique de 200 kV
Auteur(s)
Gotthardt, R ; Buffat, PA
Publié dans
Coll. Soc. Franç. Microsc. Electron.
Volume
4
Pages
24a
Date
1979
Editeur
J. Microsc. Spectrosc. Electron.
Laboratoires
CIME
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > SB - Faculté des sciences de base > CIME - Centre interdisciplinaire de microscopie électronique
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
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Date de création de la notice
2007-02-15